(上海儀表三廠 儀表研發(fā))近日,,中國(guó)電科38所發(fā)布自主研制的新一代無(wú)損檢測(cè)設(shè)備——“超級(jí)針”X射線成像系統(tǒng),,這是全國(guó)首臺(tái)“超級(jí)針”X射線成像系統(tǒng),。該系統(tǒng)擁有“火眼金睛”般的缺陷檢測(cè)能力,,成像分辨率小于1微米。
隨著集成電路向高集成度,、微型化方向發(fā)展,,先進(jìn)封裝工藝對(duì)封裝檢測(cè)設(shè)備提出新的需求和挑戰(zhàn)。一方面,,更精細(xì)的封裝尺度要求設(shè)備分辨率提升至亞微米級(jí),,但目前國(guó)際上可生產(chǎn)亞微米級(jí)分辨率設(shè)備的廠商屈指可數(shù);另一方面,,隨著芯片制造及封裝過(guò)程中越來(lái)越多地使用硅,、鋁、銅,、陶瓷等輕元素材料,,對(duì)輕元素材料的檢測(cè)需求日益凸顯,對(duì)設(shè)備檢測(cè)范圍提出了更高要求,。因此,,更高分辨率、更高對(duì)比度、更大檢測(cè)范圍的X射線檢測(cè)設(shè)備,,已成為集成電路封裝檢測(cè)行業(yè)發(fā)展的迫切需要,。
微焦點(diǎn)X射線成像系統(tǒng)是工業(yè)無(wú)損檢測(cè)的常規(guī)必備設(shè)備,廣泛應(yīng)用于集成電路,、電子器件等各種器材的無(wú)損檢測(cè),,能夠觀察物體內(nèi)部的精細(xì)結(jié)構(gòu),其中X射線源的性能則直接決定了此類設(shè)備的檢測(cè)能力,。超級(jí)針是一種理論上的最佳電子源,。
2011年,中國(guó)電科38所首次提出將超級(jí)針應(yīng)用于微焦點(diǎn)X射線源的開(kāi)發(fā),。經(jīng)過(guò)近十年的技術(shù)攻關(guān),,超級(jí)針X射線成像系統(tǒng)最終順利問(wèn)世。目前,,中國(guó)電科38所針對(duì)該產(chǎn)品已申請(qǐng)30余項(xiàng)國(guó)內(nèi)外發(fā)明專利,,其中申請(qǐng)美、日,、歐等國(guó)際專利12項(xiàng),。
“超級(jí)針”X射線成像系統(tǒng)采用獨(dú)特的“超級(jí)針”X射線源專利技術(shù),可在圖像增強(qiáng)器上形成被掃描物體的透視圖像,。該設(shè)備采用全國(guó)首創(chuàng)的“超級(jí)針”X射線源,,因而以“超級(jí)針”冠名,具有成像清晰,、性能穩(wěn)定,、潔凈度高、超低輻射,、低能成像等優(yōu)點(diǎn),。
中國(guó)電科38所相關(guān)負(fù)責(zé)人表示,基于超級(jí)針X射線源技術(shù),,可面向集成電路,、軍工航天、汽車電子,、醫(yī)療診斷等不同應(yīng)用領(lǐng)域,,開(kāi)發(fā)系列超級(jí)針X射線成像設(shè)備,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品系列化,、多樣化開(kāi)發(fā),,未來(lái)具有較大發(fā)展前景。